列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术， 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术，可同时探测收集激光的反射光，透射光以及共聚焦，可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面，背面和内部的缺陷，可探测最小缺陷为10

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LK300超声波测厚仪显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光；测量范围：(0.75～300)mm（钢中），公制与英制可自由转换；声速范围：(1000~9999) m/s：分辨率：0.1mm/0.01mm可选

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大豆玉米水分检测仪是针对各种农作物、水果蔬菜等水分含量测试的仪器，也适用于其他样品的含水率测试。如：医药、粮食、饲料、种子、菜籽、化工、橡胶、塑料等。

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Discovery 差示扫描量热仪介绍:DSC测量的是与材料内部热转变相关的温度、热流的关系，应用范围非常广,特别是材料的研发、性能检测与质量控制。材料的特性，如玻璃化转变温度、冷结晶、相转变、熔融、结晶、产品稳定性、固化/交联、氧化诱导期等，都是DSC的研究领域。

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为了实现高准确度和精确度，DIL802/802L卧式热膨胀仪提供了真正的差分测量方法。只检测样品和惰性参照样品之间的差异，DIL802/802L的设计消除了系统膨胀对样品测量带来的影响。

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  MKA-610-TT卡尔费休水分测定仪（容量法）

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