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DDZ泛胜玉米抗倒伏测定仪

DDZ泛胜玉米抗倒伏测定仪通过配置的刺针、拉钩、压板等附件来测量玉米的茎秆强度及抗倒伏能力。

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泛胜SPAD-2新型叶绿素测定仪

泛胜SPAD-2新型叶绿素测定仪根据叶绿素光谱吸收规律,采用两种不同的发光管照射叶片,通过测量透过叶片的光的强度计算出叶片内的叶绿素相对含量或者绿色程度。

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YHD-1泛胜叶片厚度仪

YHD-1泛胜叶片厚度仪是一种专业测量叶片厚度的工具,可以精准的测量出叶片的厚度。

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LAM-A高精度叶面积仪

LAM-A高精度叶面积仪是一种使用方便、可以在野外工作的便携式仪器。可以精确、快速、无损伤地测量叶片的叶面积及相关参数,也可对采摘的植物叶片及其它片状物体进行面积测量。

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植物冠层测量仪

FS-PAR植物冠层测量仪可广泛应用于农业生产和农业科研,为进行冠层光能资源调查,测量植物冠层中光线的拦截,研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系,本仪器用于400nm-700nm波段内的光合有效辐射(PAR)测量、记录。

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植物光合测量系统

FS-3080H植物光合测量系统可以测定气体CO2浓度、空气温湿度,叶片温度,光合有效辐射,细胞间CO2浓度,气体流量等要素,并计算出植物的光合速率、蒸腾速率、气孔导度、胞间二氧化碳浓度和水分利用率等光合作用指标,也可以单独作为二氧化碳记录仪使用。

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YLS-A玉米叶绿素仪

LS-A玉米叶绿素仪可以快速、准确、方便的测量出活体作物叶片的叶绿素含量,不需要采摘叶片,不影响作物正常生长。

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泛胜DDY茎秆强度仪

泛胜DDY茎秆强度仪采用针刺、压碎、折断三种不同探头分别测量茎秆穿刺,压碎、和弯曲强度,茎秆断裂或者屈服瞬间产生的最大力,即茎秆的强度。

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FS-PAR高精度小麦冠层分析仪

FS-PAR高精度小麦冠层分析仪可广泛应用于农业生产和农业科研,为进行冠层光能资源调查,测量植物冠层中光线的拦截,研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系,本仪器用于400nm-700nm波段内的光合有效辐射(PAR)测量、记录。

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Handheld 便携式植物光谱仪

用于估计作物营养情况,产量预测,环境胁迫,病虫害影响等

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