PHL双折射测试仪器,PHL PA-110（-L)高速双折射测量仪是针对相位差差别比较小的样品，要求测量速度高的应用，专门开发了PA系列的产品，测量速度快是核心。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域
产品货号：PA-110，PA-100-L 产地：日本 价格：询价 点击数：4536 商家询价
        采用优质机械加工部件和简单的操作，使得BCT1000球坑测厚仪，特别适合于要求快速测量硬质涂层（>1um）的厚度。
产品货号：bct-1000 产地：日本 价格：询价 点击数：5723 商家询价
采用激光非接触式测量，适用于多种材料和复杂结构的样品的三维测量设备。以这样的方式进行作业，工件表面的颜色或反射率等不仅不会受到影响，并且可达到大范围的高精度测量。  
产品货号：NH系列 产地：日本 价格：询价 点击数：2232 商家询价
Adamand Namiki开发了NMH-01通过微电机和专利的光学成像探头，利用光学干涉实现内型面的测量，内径测量最小可达1.1mm，同时测量内径、真圆度、内型表面粗糙度和形貌。  
产品货号：NMH-01 产地：日本 价格：询价 点击数：2215 商家询价
PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。
产品货号：PA-300-L 产地：日本 价格：询价 点击数：2595 商家询价